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插入损失测试

2026-01-31关键词:插入损失测试,中析研究所,CMA/CNAS资质,北京中科光析科学技术研究所相关:
插入损失测试

插入损失测试摘要:插入损失测试是评估信号传输系统中连接器、线缆或组件引入信号衰减的关键检测项目。它直接关系到通信系统的传输效率、信号完整性与整体性能,通过精确测量信号在通过被测件前后的功率差值,为产品设计与质量控制提供至关重要的数据支撑。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.同轴连接器插入损失测试:射频同轴连接器在指定频段下的信号衰减量测试,多端口连接器各通道插入损失测试。

2.光纤连接器插入损失测试:单模与多模光纤活动连接器的介入损耗测试,光纤跳线整体插入损失测试。

3.射频线缆组件插入损失测试:不同长度与规格的稳相电缆、半柔电缆在宽频范围内的插入损失特性测试。

4.印制电路板传输线插入损失测试:高频电路板上微带线、带状线等传输路径的插入损失与频率关系测试。

5.滤波器插入损失测试:带通滤波器、低通滤波器在通带及阻带范围内的插入损失特性曲线测试。

6.天线馈电网络插入损失测试:多频段天线合路器、功分器各端口的信号插入损失与隔离度测试。

7.波导元件插入损失测试:各类波导转换器、波导滤波器在微波波段下的插入损失性能测试。

8.车载高频连接系统插入损失测试:用于车载雷达、娱乐系统的线缆与连接器在振动与温度循环下的插入损失稳定性测试。

9.高速数据连接器插入损失测试:差分连接器、背板连接器在高速信号传输下的插入损失与回波损耗联合测试。

10.光电混合连接组件插入损失测试:同时包含电信号与光信号传输路径的混合连接器的综合插入损失评估。

检测范围

射频同轴连接器、光纤活动连接器、多芯光纤连接器、射频电缆组件、高速数据电缆、电路板高速连接器、波导至同轴转换器、天线馈线、功分器、合路器、耦合器、固定衰减器、可调衰减器、滤波器、隔离器、环形器、光电复合缆、医疗设备内部互连线缆、工业控制总线连接器、车载信息传输线束

检测设备

1.矢量网络分析仪:用于精确测量被测件在宽频范围内的插入损失及相位参数;具备高动态范围和校准功能,可进行单端口或全双端口测量。

2.频谱分析仪与跟踪信号源:组合用于扫频测量插入损失;信号源输出已知功率信号,分析仪测量通过被测件后的信号功率,计算差值。

3.光时域反射仪:用于定位和测量光纤链路中连接点、熔接点等事件引起的插入损失;通过分析背向散射光信号进行评估。

4.可调激光源与光功率计:用于点对点测量光纤连接器或光纤器件的插入损失;在特定波长下,比较输入与输出光功率。

5.高性能示波器:配合脉冲或阶跃信号源,通过时域反射测量法评估高速互连通道的插入损失特性。

6.微波综合测试仪:集成信号发生与矢量分析功能,适用于现场或外场对微波部件进行快速、准确的插入损失测试。

7.多通道光开关与测试系统:用于自动化测试多个光纤通道或连接器的插入损失;提高测试效率,减少人为误差。

8.高精度校准件:包括开路器、短路器、负载及直通校准件;用于对网络分析仪进行系统误差校准,确保插入损失测量基准的准确性。

9.环境试验箱:用于在规定的温度、湿度或振动条件下,测试连接器或线缆组件插入损失的环境适应性及稳定性。

10.夹具与测试治具:包括专用测试板、适配器、夹具去嵌入软件等;用于将被测件可靠接入测试系统,并消除测试夹具本身引入的误差。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器资质

中析插入损失测试-由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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